一種在諸如炭黑反應器的工藝過程物流中原位取樣并測量顆粒(例如炭黑)細度的方法，包括(a)從工藝過程物流中對粒子原位取樣，(b)將樣品調整到適用干LII的狀態，(c)使用LII測量細度，并且(d)將LⅡ 的細度測量結果與實際粒子細度關聯。一種對含粒子的物流原位取樣并采用激光感生白熾光(LI)測量粒子細度的方法，包括(a)對粒子原位取樣，(b)將樣品調整到適用于 LII的狀態，(c)采用LⅡ測量經調整的樣品，并且(d)將 LII 的測量結果與實際粒子細度關聯。 還包括一種基于實時、在線、粒子的原位取樣和測量方法的取樣和控制工藝過程的方法。 取樣可包括從粒子源中引出側流。將樣品調整到適用于LII 的狀態可包括稀釋樣品或將樣品的溫度調至室溫。 關聯可包括采用關聯函數，該關聯函數由比較同時引出的粒子樣品的 LII 測量結果與實驗室細度測量結果確定。